突破局限，“洞見”不可見

?500萬像素?

短波紅外工業(yè)相機(jī)

—MV-GEC500I—

InGaAs探測器 | 千兆網(wǎng)口 | 支持ROI

產(chǎn)品參數(shù)：

產(chǎn)品特色：

光譜更寬，洞悉更多

?光譜圖：

黑電平矯正，圖像均勻性好

千兆網(wǎng)接口，兼容VISION標(biāo)準(zhǔn)

應(yīng)用領(lǐng)域：

案例分析：

01 | 水果檢測

水在SWIR波段具有明顯的吸光條帶

因此可以輕松檢測出水果和蔬菜上的瘀傷。

02 | 半導(dǎo)體硅片檢測

硅在SWIR波段呈透明狀。但在波段1.5um的短波紅外下，相機(jī)能夠拍攝到硅片的底層結(jié)構(gòu)

可用于檢測硅片的隱裂等缺陷。

03 | 專為低照度科研短波紅外成像和顯微鏡成績設(shè)計(jì)

硅作為一種間接帶隙的半導(dǎo)體材料，能夠傳輸較低能量的SWIR光波，這使得半導(dǎo)體晶圓在短波紅外光譜范圍內(nèi)呈現(xiàn)透明狀

基于這種透明狀態(tài)，可檢測晶圓或封裝集成電路等產(chǎn)品以及不透明容器(例如容器中的料位檢測)

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